微先鋒鍍層測厚儀的功能分析

更新時間：2019-05-16 點(diǎn)擊次數(shù)：2325

Micro Pioneer XRF-2000R X光鍍層測厚儀及ROHS元素分析儀是在XRF-2000系列測厚儀的基礎(chǔ)上增加了元素分析及有害物質(zhì)檢測的功能，其物點(diǎn)為：高分辨率，固態(tài)探測器。主要應(yīng)用測量鍍金、涂層、薄膜、元素的成分或者是厚度，其可偵測元素的范圍：Ti(22)~U(92 )。自動過濾器，多準(zhǔn)直儀(五個準(zhǔn)直器，從0.1mm-3.0mm)和全自動XYZ移動樣品臺；性價比*的元素分析及鍍層測厚雙功能分析儀器

微先鋒鍍層測厚儀的功能：

1.相容Microsoft微軟作業(yè)系統(tǒng)之測量軟體，操作方便，直接可用Office軟體編輯報(bào)告。

2.標(biāo)準(zhǔn)ROI軟體搭配內(nèi)建多種專業(yè)報(bào)告格式，亦可將數(shù)據(jù)、圖形、統(tǒng)計(jì)等作成完整報(bào)告。

3.可測量高達(dá)六層的鍍層(五層厚度底材) 并可同時分析多種元素。

4.移動方式：全系列全自動載臺電動控制，減少人為視差。

5.全系列*設(shè)計(jì)樣品與光徑自動對準(zhǔn)系統(tǒng)。

6.非破壞，非接觸式檢測分析，快速精準(zhǔn)。

7.準(zhǔn)直器口徑多種選擇，可根據(jù)樣品大小來選擇準(zhǔn)值器的口徑。